Bu çalışmada, Madde Tepki Kuramına (MTK) dayalı iki dikey ölçekleme yöntemi (sabitlemeye dayalı kestirim ve eşzamanlı kestirim) karşılaştırılmıştır. Sonuçlar, özellikle çapa madde sayısının az olduğu durumlarda, eşzamanlı kestirimin daya iyi sonuçlar verdiğini göstermektedir. Ancak, 3 parametreli MTK modeli kullanılarak öğrenci yeterliklerinin “expected a posteriori” (EAP) yöntemiyle kestirildiği durumlarda dikey ölçeklenmiş değerlerde bozulma görülmektedir. Genel olarak bu çalışmanın sonuçları, sınıf seviyeleri arasındaki gelişimin takip edilmesi amacıyla yürütülebilecek geniş ölçekli test uygulamalarında, 2 veya 3 parametreli MTK modellerine dayalı eşzamanlı kestirimin makul bir seçenek olabileceğini göstermektedir.

Anahtar Kelimeler: Dikey ölçekleme, Madde tepki kuramı, Bilog-MG, Eşzamanlı kestirim